logo
english
français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
português
Nederlandse
ελληνικά
日本語
한국
العربية
हिन्दी
Türkçe
bahasa indonesia
tiếng Việt
ไทย
বাংলা
فارسی
polski
Rumah
Tentang kami
Profil Perusahaan
Tur Pabrik
Kontrol kualitas
Produk

Substrat Safir

Sapphire Optical Windows

Silicon Carbide Wafer

Tabung Safir

Gallium Nitride Wafer

Substrat Semikonduktor

Batu Permata Sintetis

Bagian Keramik

Peralatan Laboratorium Ilmiah

Kotak Jam Tangan Sapphire Crystal

Kotak Pembawa Wafer

Substrat Tipis Monokristalin Superkonduktor
solusi
Blog
Hubungi kami
Created with Pixso.
english
français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
português
Nederlandse
ελληνικά
日本語
한국
العربية
हिन्दी
Türkçe
bahasa indonesia
tiếng Việt
ไทย
বাংলা
فارسی
polski
kutipan
Created with Pixso.
Rumah
Tentang kami
Profil Perusahaan
Tur Pabrik
Kontrol kualitas
Produk

Substrat Safir

Sapphire Optical Windows

Silicon Carbide Wafer

Tabung Safir

Gallium Nitride Wafer

Substrat Semikonduktor

Batu Permata Sintetis

Bagian Keramik

Peralatan Laboratorium Ilmiah

Kotak Jam Tangan Sapphire Crystal

Kotak Pembawa Wafer

Substrat Tipis Monokristalin Superkonduktor
solusi
Blog
Hubungi kami
kutipan
Created with Pixso. Rumah Created with Pixso. Tentang kami Created with Pixso. Kontrol kualitas
Tentang kami
PRODUK PANAS
Sapphire tube EFG polish sisi ganda untuk Laser dan Sistem Optik

Sapphire tube EFG polish sisi ganda untuk Laser dan Sistem Optik

Batang Safir Fabrikasi Presisi Kemurnian Tinggi Komponen Safir Kristal Tunggal

Batang Safir Fabrikasi Presisi Kemurnian Tinggi Komponen Safir Kristal Tunggal

Quartz Prisms UV Grade Beam Steering Optics untuk Laser dan Imaging Systems

Quartz Prisms UV Grade Beam Steering Optics untuk Laser dan Imaging Systems

Wafer Kuarsa Fusi Kemurnian Tinggi Stabilitas Termal Kejernihan Optik

Wafer Kuarsa Fusi Kemurnian Tinggi Stabilitas Termal Kejernihan Optik

SiC Biji Kristal Diameter 153mm 155mm 203mm 205mm 208mm PVT

SiC Biji Kristal Diameter 153mm 155mm 203mm 205mm 208mm PVT

SiC Epitaxial Wafer 4H/6H SiC Substrat Custom Ketebalan Doping

SiC Epitaxial Wafer 4H/6H SiC Substrat Custom Ketebalan Doping

Hubungi kami
Mr. Wang
+8615801942596
8615801942596
eric406337393
wmqeric@sina.cn

Kontrol kualitas

Kontrol Kualitas adalah kunci untuk pengiriman yang sukses, kami berdiri di sisi pembeli untuk melihat pentingnya kualitas dan mencoba yang terbaik untuk memasok produk dengan kualitas terbaik. Semua produk kami akan memiliki 100% inspeksi qc sebelum pengiriman.

    Hubungi kami