logo
Harga yang pantas  on line

rincian produk

Created with Pixso. Rumah Created with Pixso. Produk Created with Pixso.
Silicon Carbide Wafer
Created with Pixso.

12 inci (300 mm) SiC (Silikon Karbida)

12 inci (300 mm) SiC (Silikon Karbida)

Nama merek: ZMSH
MOQ: 1
harga: by case
Rincian kemasan: karton khusus
Ketentuan Pembayaran: T/T
Informasi Rinci
Tempat asal:
Cina
Polytype:
4H
Jenis Doping:
Jenis N
Diameter:
300±0,5mm
ketebalan:
Hijau: 600 ± 100 µm / Putih transparan: 700 ± 100 µm
Orientasi Permukaan (Off-cut):
4° menuju \<11-20\> ± 0,5°
TTV (Variasi Ketebalan Total):
≤ 10 mikron
Menyediakan kemampuan:
Menurut kasus
Deskripsi Produk

Wafer Karbida Silikon (SiC) 12 Inci

Ringkasan Produk

Wafer Silicon Carbide (SiC) berukuran 12 inci mewakili generasi selanjutnya dari substrat semikonduktor bandgap lebar,didesain untuk mendukung produksi skala besar perangkat elektronik bertenaga tinggiDibandingkan dengan wafer SiC konvensional 6 inci dan 8 inci, format 12 inci secara signifikan meningkatkan area chip yang dapat digunakan per wafer, meningkatkan efisiensi manufaktur,dan menawarkan potensi yang kuat untuk pengurangan biaya jangka panjang.

 

Silikon karbida adalah bahan semikonduktor bandgap lebar dengan kekuatan medan listrik pemecahan tinggi, konduktivitas termal yang sangat baik, kecepatan drift elektron jenuh yang tinggi,dan stabilitas termal yang luar biasaProperti ini membuat wafer SiC 12 inci platform yang ideal untuk aplikasi tegangan tinggi, daya tinggi, dan suhu tinggi.

 

12 inci (300 mm) SiC (Silikon Karbida) 0       12 inci (300 mm) SiC (Silikon Karbida) 1


Spesifikasi Material dan Kristal

  • Bahan: Karbida Silikon Kristal Tunggal (SiC)

  • Politipe: 4H-SiC (standar untuk perangkat daya)

  • Jenis Konduktivitas:

    • N-type (nitrogen doped)

    • Semi-insulasi (bisa disesuaikan)

Pertumbuhan kristal tunggal SiC 12 inci membutuhkan kontrol lanjutan gradien suhu, distribusi tekanan, dan penggabungan kotoran.Teknologi pertumbuhan kristal PVT (Physical Vapor Transport) yang ditingkatkan biasanya digunakan untuk mencapai diameter besar, bola SiC dengan cacat rendah.

 

 


12 inci (300 mm) SiC (Silikon Karbida) 2

Proses Produksi

Produksi wafer SiC 12 inci melibatkan serangkaian proses presisi tinggi:

  1. Pertumbuhan kristal tunggal berdiameter besar

  2. Orientasi kristal dan mengiris ingot

  3. Penggilingan presisi dan penipisan wafer

  4. Pengelasan sisi tunggal atau sisi ganda

  5. Pembersihan lanjutan dan pemeriksaan komprehensif

Setiap langkah dikendalikan dengan ketat untuk memastikan datar, ketebalan seragam, dan kualitas permukaan yang sangat baik.

 


Keuntungan Utama

  • Hasil Perangkat Lebih Tinggi Per Wafer: Ukuran wafer yang lebih besar memungkinkan lebih banyak chip per run

  • Meningkatkan Efisiensi Produksi: Dioptimalkan untuk pabrik generasi berikutnya

  • Potensi Pengurangan Biaya: Biaya per perangkat yang lebih rendah dalam produksi bervolume tinggi

  • Kinerja Termal dan Listrik yang Lebih Baik: Ideal untuk kondisi operasi yang sulit

  • Kompatibilitas Proses yang Kuat: Cocok untuk pembuatan perangkat daya SiC arus utama

 12 inci (300 mm) SiC (Silikon Karbida) 3


Aplikasi Tipikal

  • Kendaraan listrik (SiC MOSFET, SiC Schottky dioda)

  • Pengisi daya on-board (OBC) dan inverter traksi

  • Infrastruktur pengisian cepat dan modul daya

  • Inverter surya dan sistem penyimpanan energi

  • Mesin penggerak industri dan sistem kereta api

  • Elektronika daya kelas atas dan aplikasi pertahanan

 

12 inci (300 mm) SiC (Silikon Karbida) 4

 


Spesifikasi khas (bisa disesuaikan)

Artikel Jenis NKelas produksi (P) Jenis NKelas Dummy (D) Tipe SIKelas produksi (P)
Politipe 4H 4H 4H
Jenis doping Jenis N Jenis N /
Diameter 300 ± 0,5 mm 300 ± 0,5 mm 300 ± 0,5 mm
Ketebalan Hijau: 600 ± 100 μm / Putih transparan: 700 ± 100 μm Hijau: 600 ± 100 μm / Putih transparan: 700 ± 100 μm Hijau: 600 ± 100 μm / Putih transparan: 700 ± 100 μm
Orientasi permukaan (Off-cut) 4° ke arah< 11-20>± 0,5° 4° ke arah< 11-20>± 0,5° 4° ke arah< 11-20>± 0,5°
Wafer ID / Primary Flat Notch (wafer bulat penuh) Notch (wafer bulat penuh) Notch (wafer bulat penuh)
Kedalaman Notch 1.0 ️ 1,5 mm 1.0 ️ 1,5 mm 1.0 ️ 1,5 mm
TTV (Variasi Total Ketebalan) ≤ 10 μm NA ≤ 10 μm
MPD (Densitas Mikropipe) ≤ 5 ea/cm2 NA ≤ 5 ea/cm2
Resistivitas Zona pengukuran:Pusat 8 inci Area Zona pengukuran:Pusat 8 inci Area Zona pengukuran:Pusat 8 inci Area
Pengolahan Permukaan Si-Face CMP (dipoli) Penggilingan CMP (dipoli)
Pengolahan Edge Chamfer Tidak ada Chamfer Chamfer
Chip tepi (diizinkan) kedalaman chip < 0,5 mm kedalaman chip < 1,0 mm kedalaman chip < 0,5 mm
Laser Marking C-side marking / Menurut kebutuhan pelanggan C-side marking / Menurut kebutuhan pelanggan C-side marking / Menurut kebutuhan pelanggan
Daerah Politipe (Lampu Polarisasi) Tidak ada politipe (kecualian tepi 3 mm) Daerah polimorfisme < 5% (pengecualian tepi 3 mm) Tidak ada politipe (kecualian tepi 3 mm)
Retakan (Lampu Intensitas Tinggi) Tidak ada retakan (kecualian tepi 3 mm) Tidak ada retakan (kecualian tepi 3 mm) Tidak ada retakan (kecualian tepi 3 mm)

 


Pertanyaan yang Sering Diajukan (FAQ)

T1: Apakah wafer SiC 12 inci siap untuk produksi massal?
A: Wafer SiC 12 inci saat ini berada di tahap awal industrialisasi dan sedang dievaluasi secara aktif untuk produksi pilot dan volume oleh produsen terkemuka di seluruh dunia.

 

T2: Apa kelebihan wafer SiC 12 inci dibandingkan wafer 8 inci?
A: Format 12 inci secara signifikan meningkatkan output chip per wafer, meningkatkan throughput pabrik, dan menawarkan keuntungan biaya jangka panjang.

 

Q3: Bisakah spesifikasi wafer disesuaikan?
A: Ya, parameter seperti jenis konduktivitas, ketebalan, metode polesan, dan kelas inspeksi dapat disesuaikan.